笔记本电脑作为一种精密的电子设备，内部元件之间的连接紧密，一旦受到外部压力，很容易造成壳体结构破损，内部元件损坏等问题。模拟跌落时的情况，分析测得跌落时受力分布及变形情况，有助于改善笔记本抗跌性能，提升产品的耐用性。

新拓三维XTDIC-SPARK三维高速测量系统，通过直接控制高速摄像机采集目标运动过程，并跟踪运动全过程，利用XTDA动态软件对产品跌落进行分析，了解产品受损情况，评估产品包装组件在跌落时所能承受的坠落高度及耐冲击强度。

笔记本电脑跌落DIC测试

使用XTDIC-SPARK三维高速测量系统，搭配高速摄像机对笔记本电脑自由落体试验进行拍摄，并采用DIC软件对其跌落过程进行瞬态位移场和应变场分析。

XTDIC-SPARK三维高速测量系统，可以清晰捕捉笔记本电脑跌落过程，XTDA动态软件分析笔记本电脑跌落过程的Z方向位移场、跌落瞬态三维形貌变化。

Z方向位移场

跌落瞬态三维形貌变化

平板电脑跌落DIC测试

抗跌测试，可以了解平板电脑跌落外壳结构的变化。XTDIC-SPARK三维高速测量系统，进行跌落瞬态变形测试，可分析产品壳体的抗冲击特性，观测整个物理样机试验变化过程。

XTDIC-SPARK三维高速测量系统，可分析的平板电脑跌落瞬间，关注热点区域表面上所有的变形情况。

平板电脑跌落瞬态位移场变化过程

XTDIC-SPARK三维高速测量系统，可以直观地发现产品最大的变形区域和最大的应力区域，通过对这些区域结构的增强，可以有效减少跌落引起的结构的破坏。

笔记本/平板电脑屏幕对冲击加速度非常敏感，通过测试数据，有助于对结构缓冲的更新设计，提升屏的抗跌落性能。XTDIC-SPARK三维高速测量系统用于跌落试验测试，分析输出各种直观的数据，云图，曲线等，直观发现结构的危险区域，帮助工程师做出正确的判断。